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[其它] [求助]薄層厚度問題 |
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点评
SiO2,光控在第二层上的吧,前面层的监控误差也会传递到它的。
因为光控只能判停,而无法清楚知道起始情况。
晶控则不同,它是根据起始终止频率来计算膜厚的,所以,只要Tooling抓准确了,算物理厚度还是最拿手的。
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