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现向大家推荐美国SCI公司的薄膜测试仪器,本公司的测试器广泛应用于半导体,光电子,数据存储,显示器,MEMS等工业领域.. Measurement Features
测量特征FilmTek™ 1000FilmTek™ 1500FilmTek™ 2000FilmTek™ 3000FilmTek™ 2000SEFilmTek™ 4000Index of Refraction折射指数
(at 2µm thickness) ±0.005±0.005±0.002 ±0.002±0.0002 ±0.00002 Thickness Measurement Range
厚度测量范围10nm-150mm 10nm-150mm 5nm-150mm 5nm-150mm 1Å-150mm 3nm-350mm Maximum Spectral Range
最大光谱范围380-1000nm380-1000nm190-1700nm190-1700nm190-1700nm190-1700nmStandard Spectral Range
标准光谱范围380-1000nm380-1000nm240-860nm 240-860nm 240-1000nm380-1000nmReflection反射测量Transmission透射测量 Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量 Power Spectral Density
功率谱密度测量Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量 Both TE TM Components of Index Multi-layer thickness
多层厚度测量Index of Refraction
折射系数测量Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数Energy band gap
能量带隙测量 Composition成分测量 Crystallinity晶状测量 Inhomogeneous Layers
非均匀层测量 Surface Roughness
表面粗糙度测量 如有问题请与我们联系:0755-83342710,或:13632712541. Email:zoupuhong@chinecnet.com
邹普红
jC0J2OgC.doc
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