现向大家推荐美国SCI公司的薄膜测试仪器,本公司的测试器广泛应用于半导体,光电子,数据存储,显示器,MEMS等工业领域.
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Measurement Features
测量特征
FilmTek™ 1000
FilmTek™ 1500
FilmTek™ 2000
FilmTek™ 3000
FilmTek™ 2000SE
FilmTek™ 4000
Index of Refraction折射指数
(at 2µm thickness)
±0.005
±0.005
±0.002
±0.002
±0.0002
±0.00002
Thickness Measurement Range
厚度测量范围
10nm-150mm
10nm-150mm
5nm-150mm
5nm-150mm
1Å-150mm
3nm-350mm
Maximum Spectral Range
最大光谱范围
380-1000nm
380-1000nm
190-1700nm
190-1700nm
190-1700nm
190-1700nm
Standard Spectral Range
标准光谱范围
380-1000nm
380-1000nm
240-860nm
240-860nm
240-1000nm
380-1000nm
Reflection反射测量
Transmission透射测量
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量
Power Spectral Density
功率谱密度测量
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量
Both TE TM Components of Index
Multi-layer thickness
多层厚度测量
Index of Refraction
折射系数测量
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数
Energy band gap
能量带隙测量
Composition成分测量
Crystallinity晶状测量
Inhomogeneous Layers
非均匀层测量
Surface Roughness
表面粗糙度测量
如有问题请与我们联系:0755-83342710,或:13632712541. Email:zoupuhong@chinecnet.com
邹普红 |