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供:激光光束测量,能量/功率测量仪器激光光束分析仪BeamPro Filer
波长范围:190-1100nm(CCD), 800-2200nm(红外热像仪)
光束直径:>=95μm
用于脉冲和连续激光光束空间特征各种参数的测量和分析,包括光束宽度、斑心和峰值的位置、主轴和次轴、光束方位、椭圆率、偏心率、1D和2D高斯曲线、光束均匀度、光束离散度、测试点稳定性、M2、K系数、等等。处理软件可通过电脑对测量结果实时地进行显示、分析和存储。
BeamScan®双轴扫描式光束尺寸测量分析仪
波长范围:190 nm -20μm(紫外-远红外)
光束尺寸大小:4-25μm
激光功率:μW -100W
用于脉冲(可达8KHz)和连续激光光束的测量和分析,包括光束功率、尺寸、顶角、平行度/发散度、光束的精确位置、近场轮廓、M2、高斯分布、椭圆率、线性运动平移轨迹的多点测量,以及光纤准直等等。还可进行多光束的测量和分析,实时和长时间监测光束变化,以便及时作出相应调整。处理软件可通过电脑(台式机、笔记本电脑)对测量结果实时地进行显示、分析和存储。
远场轮廓仪/角度辐射计(红外) Far-Field Profilers /Goniometric Radiometer(IR)
扫描范围:±72°
扫描半径:84mm
用于对角辐射光的有关参数进行直接、实时和远场的测量,包括测量数值孔径、发散模式、光波导、光学元件如透镜、滤波器等的影响、单模多模光纤、发散角、角坐标、任一轴上用户指定锥角的功率等等的测量。处理软件可对测量结果通过电脑实时地进行显示、分析和存储。
SpotScanTM光学刀口轮廓仪Knife Edge Profiler
用于亚微米光斑尺寸、强度分布、焦点、位置、光源发散程度、光度头灵
敏度的测量。实时显示测量结果。
近场轮廓仪Near Field Profiler
波长范围:700 nm -1600μm
分辨率: 1μm、2.6μm
用于激光半导体、光纤等近场的小光源进行微米级、高精度的激光光束
测量。还可与BeamScan配合延伸其对聚焦激光斑点尺寸的测量范围。
激光功率/能量测量仪
美国Laser Probe公司生产从紫外到远红外各种类型的光电探测器,包括用于脉冲能量测量的大面积InGaAs探测器、辐射计、功率/能量计、各种探头,以及变速或定速的光学斩波器,该公司的功率能量计被国际标准计量局(BIPM-Bureau International des et Mesures)以及我国国家计量研究院选为基准计量仪器,产品广泛应用于科学研究、工业等领域。
我们还有其他光电产品,如高性能CCD、红外成像系统等。如果需要可以近一步和我们联系并索取更详细资料。
联系电话:02031816260 |
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