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我公司提供测量球面反射设备,精度高,对比过同类奥林巴斯等数据,绝对可靠,价格低廉,有需要的可留意联系我,13693572892,xlli@goldway.com.cn,
FS4000系列
快速分光光度计
测量速度快
能够测量球面反射比
薄膜颜色测量
测试精度高
显示目标与实测光谱曲线
透反射率数据统计
FS4000系列快速分光光度计是一个适合工厂使用的分光光度计系统,能够测量光学元件的透、反射光谱,包括平面光学元件(如高反镜、滤光片、分光镜等),球面光学元件(如凸透镜、凹透镜)。FS4000系列产品包括FS4100透射测量系统与FS4200反射测量系统。该系列产品在国内已有十多家厂商使用,受到客户的一致好评及认可。
设备特点
测量速度快,适合工厂及研究单位进行产品全检;
自主研发的测试软件,全中文界面,易于操作;
设备采用先进光学元器件,无机械扫描结构,可靠性高,寿命长;
哑元技术,低频快门技术,有效降低躁声及减少信号飘移;
采用长寿命光源,1500小时寿命,一般能使用6个月。
重要功能
颜色测量:通过测试薄膜的透反射率光谱,计算得出薄膜的颜色参数及直观颜色
目标曲线:将测试元件的透/反射率指标输入软件,直接能够对比实际测试曲线与目标曲线,方便评定产品合格率;
数据统计:包括详细的透反射比数据,以及最大值、最小值所对应的波长位置,便于分析;
FS4100透射测量系统
技术指标:
光谱范围:400 nm~850nm(可扩展至1000nm)
测量范围:T:0~100%,
分辨率:优于 2nm
稳定度:< 0.2% @100%; (20分钟预热)
测量速度: 0.2~1 秒/次(平均值)
特点:
采用积分球结构,使测量更加准确
测试元件口径范围大 5----200mm
能够测量分析薄膜均匀性
采用优化光学系统,测量数据科学可靠
FS4200反射测量系统
技术指标:
光谱范围:400 nm~850nm(可扩展至1000nm)
测量范围:R:0~100%
分辨率:优于 2nm
稳定度:< 0.1% @4%; (20分钟预热)
测量速度: 0.2~1 秒/次(平均值) 特点
能够测量球面元件的反射率光谱,包括凹透镜,凸透镜等
采用进口耦合石英光纤,保证测试精度准确
高稳压电源及精密光源提高了长时间测试的精度,减小了温度漂移对设备的影响 |
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