方便实用的材料弱吸收测试仪

           美国SPTS公司的光热共路干涉仪是源于斯坦福大学研究项目的产品，用于测试晶体材料和薄膜的弱热吸收系数，对样品的表面散射不敏感，泵浦激光波长可以在190-1800nm，灵敏度可达10-7。适合于非线性激光晶体的测试，比如KTP、BBO、铌酸锂等；对薄膜可以进行透过、反射的测试。 弱吸收仪除了以上应用外，还可以用于薄膜质量的检测，并用于控制和改善镀膜的工艺工程。


应用范围：

适用晶体/光学材料：Nd:YVO4, Nd:YAG, KTP, RTP, LiTaO2, LiNbO3, LBO, BBO, PPLT, PPLN…

适用薄膜：AR、HR以及单层、多层膜等。

主要技术指标：

探测光波长：633nm

探测光直径：F0.2mm

最大吸收值：100mW/cm (材料)； 10mW （薄膜）

体吸收灵敏度：1mW

面吸收灵敏度：0.1mW

灵敏度（损伤引起的折射率变化）：10－7

扫描分辨率：0.6 mm (水平方向)；0.06 mm（垂直方向）   

时间分辨率： > 0.01s

配置选择：

1）  样品台尺寸：标准1”，2”可选

2）  样品台运动方式：标配 手动，电动可选

3）  泵浦通道：标配单路（1064nm），2路或多路可选

4）  泵浦激光（1064nm）：可选供


                         详情请参考  http://opturn.blog.sohu.com/entry/5427480/




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