ASAP技术文章--stray_light杂散光分析

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ASAP与杂光分析
本技术指南描述如何使用 BRO公司(Breault Research Organization, Inc.)的ASAP®(AdvancedSystem Analysis Program)软件对光学系统进行杂光模拟。ASAP 对用户提供三维光机系统建模能力以及详细的光学性质模型。它可以模拟的光学性质包括各向同性(isotropic)与各向异性(aniso-tropic)的表面散射, 体散射等等。它亦提供一个高效能的散射光模拟方法。ASAP对散射光的模拟可应用在各种不同的系统上: 从汽车车灯到变焦镜头; 它涵盖的电磁波波段乃从X光(例如, X光多镜望远镜, X-ray Multiple Mirror Telescope, XMM), 到紫外波段(ultraviolet, 例如, 微光刻, micro-lithography), 可见光, 直到远红外(例如, 热辐射, thermal emission)。ASAP亦可模拟由鬼像，衍射, 或热辐射产生的杂光。

杂光乃是不需要的光(unwanted light)。它导致光学系统性能下降, 什至产品或工程任务的失败。它掩盖微弱的讯号, 降低信噪比(signal-to-noise ratio), 削减对比(contrast), 导致辐射度(radio-metric)及亮度学(photometric)的错误结果 。在高能激光系统中, 它什至可以损坏光学组件及探测器。杂光的来源包括了光学及机械组件的表面, 光阑(stop)及挡板(baffle)边缘的衍射, 从光栅而来的额外衍射级次(diffraction order), 以及热辐射。