力曲线和力阵列测量显微镜/磁场力显微镜/电化学显微镜/导电原子力显微镜

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美国布鲁克Bruker原子力显微镜-- Dimension Icon

Bruker公司的AFM具有多项专利技术，以其卓越的性能广泛应用于科研和工业界各领域
Dimension Icon 系列作为布鲁克公司(Bruker AXS)原子力显微镜的旗舰产品，凝聚了多项行业领先的专利技术，是二十多年技术创新、客户反馈和行业应用的结晶。
应用：
应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。

Dimension Icon 原子力显微镜(AFM）的性能、功能及附件等方面具有全新表现，在聚合物、半导体、能源、数据存储及材料领域的纳米研究中将会得到广泛应用。Dimension Icon是Dimension系列产品中的最新款设备,它基于世界上应用最广泛的AFM平台，集合了数十年的技术创新、行业内领先的应用定制及客户反馈等于一身。这个系统经过从上到下的设计，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表现。

主要特点：

结合Veeco最新的行业领先的针尖-扫描AFM技术，Icon的温度补偿定位传感器使Z轴的的噪音水平达到亚-埃米级，X-Y方向达埃米级。在大样品台、90微米扫描范围系统的仪器当中，这种表现是非常突出的，优于绝大部分的开环、高分辨率AFM系统的噪音水平。

Icon不仅具有非常好的分辨率，它还具备许多新的特性，以增加新老AFM用户操作仪器的便捷性及出图像速率：
专利设计的扫描管，实现闭环扫描功能同时，具有开环扫描管的噪音水平，在大样品AFM系统中实现前所未有的分辨率
全新设计的XYZ闭环扫描管，在不影响图像质量下具有非常高的扫描速度，具有非常快的数据采集能力
最新的NanoScope软件版本，提供直观的操作流程及默认实验模块，将复杂的AFM操作流程转化为预先设置
高分辨率的照相机及X-Y定位，实现更迅速、更有效的样品定位
完全开放的针尖及样品环境，适用于绝大部分的标准或定制实验
硬件及软件设置适用Veeco现有的及即将推出的所有模式及技术，包括现有的最先进的HarmoniX纳米材料性能成像模式


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