单频激光器噪声测试系统的介绍-南京聚科光电

低噪声单频激光器在超高分辨率成像、超高速率通信、超高精度传感等领域具有广泛的应用前景，对其相位频率噪声特性的表征与测试具有不可忽视的基础性和重要性。
　　低噪声单频激光器的相位频率噪声很难直接测量，都需要通过干涉解调，干涉解调过程的低噪声性(准确性)和高稳定性成为人们发展各种测量技术的出发点。现在主要的技术有以下几种：一是基于两台同类型激光器的拍频测试，这样可以得到线宽、噪声功率谱等参数，但是只能得到两台激光器的平均值，对线宽的测试依赖于先验的噪声模型，随着测量性能越高对环境的要求也会越高；二是基于马赫-增德尔干涉仪的延迟自外差技术，该方法也依赖于测试的噪声模型，能够测得最小kHz级的线宽；三是基于迈克尔逊干涉仪结构的自外差技术，该方法能够测得噪声功率谱，不需要先验模型，但是需要主动控制技术保持干涉仪的正交工作状态，而这增加了系统复杂度和对环境的要求，同时限制了系统的噪声基底；四是基于萨格拉克结构的重复环路自外差技术，该技术普遍适用，也是该领域的研究热点，但是由于使用100 km级的延迟光纤所以其稳定性有待提高。总的说来这些方法各有其优缺点，很难同时做到保证测量完整性的同时保证其稳定性。