(求助) 量测元件时防止反射光以及去除辐射模态的问题

要测量Laser diode的功率时,我外接了一条光纤作为传输用途
但是出现了两个问题,一个是光从功率计反射回光源
                   第二个问题是产生辐射模态

书上说解决的方式分别为: 1在光源偶合到光纤的端面做一斜角(防止反射光到光源)
                                              2 涂上折射率匹配液体(防止反射光从功率计回到光纤)
                       3 把光纤绕成圆形数圈可以除去光纤内辐射模

想请教各位高手,是什么原理可以防止上述情形发生的??

加个隔离器不就OK了!
加个隔离器不就OK了!

http://www.opticres.com.cn

我是很纳闷为何把光纤绕成圆形可以除去内辐射
效应

原帖由 gmmwai 于 2008-1-7 15:48 发表
我是很纳闷为何把光纤绕成圆形可以除去内辐射
效应

赶问，内辐射效应是什么效应？

绕成圈的方式不可取,部分模式的光会从包层跑掉,但是对正常传输模式的光损耗也会有一定的增加.

原帖由 watermoon 于 2008-1-7 16:22 发表

赶问，内辐射效应是什么效应？

就是光纤弯曲产生的辐射损耗
弯曲的光纤会使光的传输途径改变。由传输模转换为辐射模，使一部分光能渗透到包层中或穿过包层成为辐射模向外泄漏损失掉，从而产生损耗。书上说当弯曲半径大于5～10cm时，由弯曲造成的损耗可以忽略。
为何弯曲半径大于5～10cm时可以忽略?不懂 ><

可以用简单的全反射原理来解释.

飞宇光电

二楼的不厚道。

一楼用的什么规格的光纤啊？

5～10cm的弯曲不足以引起光纤弯曲损耗的剧烈增加，因为这个程度的完毕还没有达到严重破坏光纤波导结构的水平。

适当半径的弯曲，的确能虑除不稳定的光纤包层模式。