量测HR高反膜时，量测角度倾斜对测量结果有什么影响？

凉晴天 发表于 2011-11-16 23:45
但个人认为，镀膜的时候监控波长倾斜会使监控判断失准，膜偏薄而滤波特性偏短波。镀好膜后，进行滤波测试性 ...

没搞懂什么叫镀膜时监控波长倾斜？镀膜后倾斜角度测试出来的中心波长肯定比不倾斜测的短，这个和你镀膜时的监控应该没什么关系吧。比较的只是倾斜角度测试和不倾斜角度测试。。。。。

确实倾斜角度越大 波长偏短波越严重，我用CAD根据绘制光路量测出来，结果和 jiahao1985312  给我的资料非常吻合。谢谢 jiahao1985312 。之前的错误结论是推导时忽略了一个小细节。