量测HR高反膜时，量测角度倾斜对测量结果有什么影响？

量测HR高反膜时，量测角度倾斜对测量结果有什么影响？反射波长向长波方向偏移了么？

请大侠给予确定的答案

当然会，不过会往短波偏移
至于偏移量跟角度的关系，要看是什么波段，波段越长，相对偏移量就更大
楼主自己用TFC试一下，就明白

但个人认为，镀膜的时候监控波长倾斜会使监控判断失准，膜偏薄而滤波特性偏短波。镀好膜后，进行滤波测试性能，此时倾斜应该会照成光程差变长，滤波特性往长波方向偏移吧。

凉晴天 发表于 2011-11-16 23:45
但个人认为，镀膜的时候监控波长倾斜会使监控判断失准，膜偏薄而滤波特性偏短波。镀好膜后，进行滤波测试性 ...

反了。

反了

我用TFC的交换分析功能，在厚度不变而角度增大的时候，所测量到的曲线会往长波方向移动。我觉得LZ没错啊？

Jimmy_tang 发表于 2011-11-17 16:25
我用TFC的交换分析功能，在厚度不变而角度增大的时候，所测量到的曲线会往长波方向移动。我觉得LZ没错啊？{ ...

你用个带通膜系再试试, 看倾斜后中心波长到底怎么移动。

otxtc 发表于 2011-11-17 19:58
你用个带通膜系再试试, 看倾斜后中心波长到底怎么移动。

抱歉，是我错了。。。横坐标不小心弄成波数了。。。换成波长后，入射角增加，反射波长段确实是向短波方向移动。

我用的是H(LH)^9的膜系，H为TiO2，L为SiO2。