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MEMS器件低成本圆片级低温键合技术的研究进展
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test4test
Lv.7
发表于
2011-10-8 09:39:30
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湖北
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MEMS器件低成本圆片级低温键合技术的研究进展.pdf
(102.24 KB, 下载次数: 1)
2011-10-8 09:39 上传
点击文件名下载附件
MEMS/NEMS较为成熟的封装
工艺
一键合工艺,多数是在高温条件下进行,但是高温会对MEMS
传感
器产生不良影响,造成器件不稳定甚至失效。因此,急需开发适用于MEMS传感器的低温键合工艺。尤其是近几年,随着生化传感器和射频器件的快速发展,对低温键合封装的需求日益增强。
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