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具体是要用迈克尔逊干涉仪或法—泊干涉仪对压电陶瓷的随电流非线性位移的测量,可能要应用上CCD进行纪录,对于CCD那位大虾可以提供资料和试验方案的。小子我在此谢谢了!有什么消息可以写上面的地址联系:zyfnpu@126.com
好像现在的pzt工作台都是用电容传感器做反馈的吧.
只有溯源到米定义时才用干涉仪标定.
至于基于研究目的才会出这种题目,没前途.
装上一个平面镜,用fft方法来计算相位变化然后换算成位移量。测量精度可以达到1nm,但是必须小步连续移动。
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