奥林巴斯KIF-PU透过波面测定干涉仪

透过波面测定干涉仪KIF-PU是解析光学部品的透过波面像差的干涉仪系统。特别在光读取头用的生产线中，是最适合评价对物透镜以及准直透镜的透过波面的系统。 无需选择操作员即可进行稳定的测定
配备了标准的压电驱动受台的自动调整构造以及专用软件，降低了调整误差所导致的测定值的变动。在高NA的光读取头镜片的透过波面测定中发挥威力。
可测定405nm带镜片·650nm帯镜片
　　标准装载了405nm光源与658nm光源的两种波长，可通过简单的操作切换测定波长，可对任一方的光学部品进行评价。
可进行直线/圆偏光切换
　　测定具有在读取头光学部品中使用的偏光依存性的被检物时，需要进行直线/圆偏光切换。最适合进行塑料以及晶体等具有复屈折特性的部品的透过波面测定。
小型·高刚性
　　小型且高刚性的本体具有防振功能且充分考虑到生产现场的使用环境，所以不占空间即可进行迅速的品质检查。
可进行合否判定
　　专用的软件，具有根据任意设定的规格值进行合否判定的机能，所以在生产线中可简单地进行合否的判定。
主要用途：
DVD、Blu-Ray Disk等的对物透镜的透过波面测定
光读取头光学部品的透过波面测定
小型反射镜、棱镜等的光学部品的透过波面测定
  

主要规格：

测定波长  图片 2405nm , 658nm （激光等级 2 产品）  
干涉方式  Twyman-Green( 泰曼 - 格林 )  
测定光束径  Φ 6mm 测定可能径 Φ 2 ～ 6mm （ 包括调整用周边的径 ）  
偏光规格  圆·直线切换  
　倍率  1X , 3X （ 数码倍率切换 ）  
反射球面 N.A  0.85  
焦点  有  
调整  有 （ spot monitor ）  
干涉条纹表示图像大小 630 X 470 （像素）
解析方式 条纹扫描方式
遥控 調整  标准装备 遥控调整范围 ：± 50um （ 手动调整范围 ：± 0.5mm ）  
装置重量  本体 ： 约 22kg( 除电脑 、 打印机 ) 遥控控制器 ： 约 0.5kg  
装置尺寸  本体 ： 330(W) × 465(D) × 460(H)mm 遥控控制器 ： 154(W) × 100(D) × 75(H)mm  
电源规格  100 － 240V AC 100VA 50-60Hz  
使用环境  水平且无振动的地方 （ 地面振动 ± 0.8m/s2 以下） 温度： 23 ± 3 ℃ 湿度： 60 ％以下、 无结露  
  

本装置不保证为 Traceability 体系中的绝对精度
透过测定时的示例  


透过波面测定干涉仪软件




主画面
　　解析结果以2维图表以及3维鸟瞰图表示。在3维图表中可显示横切面的形状。而且各像差以及 Zernike 系数将以数值形式显示。如有设定规格值时，将会显示柱型统计图以及合否 （○/×）。 再者，可在菜单中进行各种设定、数据的保存以及读取。  
＜解析结果显示机能＞
P-V 、 RMS 、Pwr
赛德尔像差 （ 倾斜 、 焦点 、 AS 、 彗差、球面像差 ）
Zernike 系数 （3、4、9、16、25、36项 ）
3维鸟瞰图 、 2 维彩图
横切面侧面像 （X 、Y方向、PV、RMS）
合否判定结果

＜文件输入输出机能＞
工作参数的保存和读取
条纹数据的保存和读取
影面数据的保存和读取
画面版面的保存和读取
主窗口打印


测定结果保存
　　测定结果可作为条纹数据保存于文档中 。 且右击画面可作为文本形式复制至剪切板，可粘贴到表计算软件。


影面设定画面
可同时设定四角形 、 圆形 、 多角形的复数影面 。 不设定影面时，可设定自动影面。

＜影面机能＞
影面设定 （ 四角形 、 圆形 、 多角形 、 自动影面 ）
自动影面设定


工作参数设定画面

可设定产品名等的属性 、 波长选择 、 修整次数选择 、 像差清除设定 、 显示单位选择 、 对 Zernike 系数的 offset 的设定 、 规格值设定 、 用户定义像差设定等的设定 。

＜工作参数设定机能＞

产品名 、 单元名 、 注释
波长 （ 405/658 ）
修整次数 （ 3/4/9/16/25/36 ）
像差清除 （ 像差指定 / Zernike系数指定 ）
显示单位 （ λ 、 μ m 、 nm 、 条纹 ）
对 Zernike 系数的 offset 设定
规格值 （ 指定各像差以及用户定义式 ）

嗯，看起来挺先进
这个仪器主要干吗呢？

楼主能不能详细说明一下？