SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，提供专业的光学薄膜设计

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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品，美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，其产品广泛应用于半导体，光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。


FilmTek™，为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求，可通过反射，透射，多角度反射，椭圆分光，偏振等方式测量多层或单层，感光层材质可为金属，半导体，非晶体，水晶，绝缘体的薄膜，光源旋转补偿以及组合型分光系统配以常规入射反射计可获得最佳的测量效果，对于极薄型以及博厚型薄膜可同时测量：
1.多层厚度（1Å 到 250 microns）
2.折射率n
3.吸收系数k
4.双折射率
5.能隙（Eg）
6.表面粗糙度和损伤
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）
8.薄膜温度特性
9.晶元曲率和薄膜耐压性

应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com


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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品，美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，提供专业的光学薄膜设计，材质分析，椭圆偏振/分光光度测定软件。目前SCI的光学薄膜软件有：Film Wizard™，FilmMonitor™，FilmEllipse™

Film Wizard™
      市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件，集成了优化系统和综合设计功能，强大的工具箱可以进行分光镜数据和偏振光谱分析，在软件中环境中根据真实的薄膜厚度，层次结构指标进行薄膜建模。该软件支持市面上通用的光度计和偏振器的数据输入，如果客户使用专用的光度计和偏振器，SCI公司免费可为客户量身定做专用数据输入文件系统。

应用实例，目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com

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