量测HR高反膜时，量测角度倾斜对测量结果有什么影响？

otxtc 发表于 2011-11-17 19:58 你用个带通膜系再试试, 看倾斜后中心波长到底怎么移动。

我是在非镀膜过程量测，按波动光学推理和几何光学的几何关系，已经镀好的膜，角度倾斜时光程差会随角度增大变长，波长也跟着变长才对吧？

凉晴天 发表于 2011-11-21 05:03
我是在非镀膜过程量测，按波动光学推理和几何光学的几何关系，已经镀好的膜，角度倾斜时光程差会随角度增 ...

再仔细算算光程差， 然后把正确计算过程与大家共享一下，如何？
// 从入射平行光开始，计算到出射光后 总 的光程差。
// 入射介质与出射介质内的光程都要考虑。
// 自己推导一次后，相信就不会再忘了。

薄膜是干涉原理实现波段性能的。在角度入射下，有效位相厚度加了个角度的余弦，导致有效位相厚度减少，要实现干涉就相当于在波长更短的地方实现。因此波长是变短了。不能用单一的光程差来分析。

查了一下资料，确实如此。如果只考虑膜层里面的光程，确实是变长了，但是反射光也有一个光程抵消了，你可以用平面几何计算一下。
光程差表达式为△=2ndcosθ，n和d分别为膜层的折射率和膜厚，θ为光在膜中的折射角。
有效光学厚度即为△/2，有效位相厚度δ=2π△/λ。
所以，角度越大，有效位相厚度越小。

风寒雪月缺 发表于 2011-11-21 12:31
薄膜是干涉原理实现波段性能的。在角度入射下，有效位相厚度加了个角度的余弦，导致有效位相厚度减少，要实 ...

一点商榷.
1. 光学薄膜的确是干涉结果；
2.干涉的三个必要条件中，没有位相厚度这一说，
  此处只考虑光程差即可。
3.确实，总结出薄膜位相厚度之后，计算变方便了。
  但有效位相厚度的来源貌似还是光程差。

可能吧  我找个时间好好推算一下。我比较外行，可能这方面得多向你们学习。我先去思考一下有效相位差和光程差之间的具体如何巧妙的影响波长偏移。

当时我是用solidwork这种工程制图软件建模分析的，当时模拟是出的光程差比一个波长（1550nm）多了0.2nm左右。如果考虑到周期性，那么有效相位差应该是 0.2/1550个波长，考虑周期性，那么就是相当于1-0.2/1550个波长啦 ；应该是这样吧，我比较外行，只能用外行的笨方法去理解了。

Jimmy_tang 发表于 2011-11-21 14:02 查了一下资料，确实如此。如果只考虑膜层里面的光程，确实是变长了，但是反射光也有一个光程抵消了 ...

△=2nd╱cosθ才对吧

凉晴天 发表于 2011-11-22 03:28
△=2nd╱cosθ才对吧

真的建议你画个几何光路图，然后计算一下。。。
喏，我干脆把图也给你了，我估计你根本没去考虑AD的长度。

otxtc 发表于 2011-11-21 19:58
一点商榷.
1. 光学薄膜的确是干涉结果；
2.干涉的三个必要条件中，没有位相厚度这一说，

干涉里也讲求相位差恒定，怎么和位相厚度无关。
光程差是没错，但是薄膜还涉及到位相的问题，不能单一的用光程差就理解了，那不是理解错了吗？

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风寒雪月缺 发表于 2011-11-22 09:58
干涉里也讲求相位差恒定，怎么和位相厚度无关。
光程差是没错，但是薄膜还涉及到位相的问题，不能单一的 ...

Jimmy_Tang的图里也可看到， 薄膜的有效位相厚度这个概念是从 光程差推导出来的。
就是一个东西，不同表述而已。