[求助]用light61(学习版)设计膜系

3.0k 10
发表于 2003-5-14 22:04:00|吉林 | 查看全部 阅读模式


老师让我设计一个膜系,要求200--800nm高通过,红外高反,用TiO2和SiO2作HL,请问这个方法可行吗,如果可以该怎么设计???3x






回复|共 10 个

成都巽风 Lv.6 发表于 2003-5-23 04:30:00|四川 | 查看全部

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我也需要这方面的知道




weilian Lv.12 发表于 2003-5-25 03:07:00|湖南 | 查看全部

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用aotufilm设计好像不难啊!




slyz 楼主Lv.2 发表于 2003-5-27 19:16:00|吉林 | 查看全部

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to weilian
autofilm是什么东东呀???




weilian Lv.12 发表于 2003-5-27 20:18:00|湖南 | 查看全部

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Autofilm 1.0功能简介
Autofilm 1.0是浙江大学薄膜研究所开发的一套光学薄膜计算机辅助设计系统,它包括光学薄膜特性计算、优化设计和监控误差模拟三大模块。各个模块的基本功能如下:
1 特性计算: 给定膜系每层的折射率和光学厚度,以及基板、入射介质等参数,求得各个波长上的光学特性。
(1)可以计算特定波长和入射角的反射率、透过率、反射位相变化、透射位相变化等特性值。
(2)绘制透、反射率,位相变化相对于波长和入射角的曲线。
(3)绘制特定波长、入射角下的导纳图。
(4)可计算有吸收、色散的膜系,系统提供了材料库,用户可自行修改材料库中的值和新增材料。
2 优化设计:给定特定波长和入射角情况下所要求的特性,求出膜系的结构。
(1)可以针对特定波长和角度下各种偏振状态的反射率、透过率、位相变化、位相变化差等条件进行优化。
(2)系统中提供了五种优化合成的方法:Powell共轭法和单纯形法这两种局域搜索的方法;统计试验法和遗传算法这两种带有随机性质的搜索方法;Needle方法这种自动合成的方法。
(3)各种优化合成的方法可以随时中断并交替使用。
3 监控误差模拟:给定材料折射率及监测信号误差,用计算机模拟最后得到的膜系结构,分析成品率。
(1)可以针对每一层输入折射率的误差范围,同时输入总的信号监测误差,计算并绘制出最后的特性曲线。从曲线的离散程度可以分析出成品率的高低。
(2)同时给出模拟得到的膜系结构。




slyz 楼主Lv.2 发表于 2003-5-28 22:09:00|吉林 | 查看全部

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可以下载么???
weilian Lv.12 发表于 2003-5-29 01:50:00|湖南 | 查看全部

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要钱地啊!!!
slyz 楼主Lv.2 发表于 2003-5-30 17:55:00|吉林 | 查看全部

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我时学生很穷的呀;怎么办,还是用免费的吧,哎


200--800nm高通过,红外高反,用TiO2和SiO2作HL,请问这个方法可行吗,如果可以该怎么设计???
yydyyd Lv.9 发表于 2003-6-1 01:28:00|四川 | 查看全部

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什么地能找到免费的膜系设计软件?
哪位大虾知道请不吝告知!
成都巽风 Lv.6 发表于 2003-6-15 23:44:00|四川 | 查看全部

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我也非常需要哦
slyz 楼主Lv.2 发表于 2003-6-17 19:05:00|吉林 | 查看全部

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yu men ya!!

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