氧化膜膜厚该如何测量?

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发表于 2005-12-21 03:32:00|江苏 | 查看全部 阅读模式
我在扩散后的硅片上生长一层氧化层,我想测量该氧化层的厚度,请问如何测量?

回复|共 4 个

shr_10 Lv.3 发表于 2005-12-24 00:48:00|上海 | 查看全部

用椭偏仪测。 1769400@163.com

annespring Lv.2 发表于 2005-12-24 01:21:00|江苏 | 查看全部

椭偏仪能测量的最小厚度是多少?

gj19820913 Lv.7 发表于 2005-12-24 04:21:00|广东 | 查看全部
如果是无吸收介质膜,我不知道可不可以用软件对光谱进行模拟计算!
cityu Lv.7 发表于 2006-4-6 18:33:00|广东 | 查看全部

使用xps或 sims

香港城市大学深圳研发中心    材料微观分析与性能测试专业服务

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香港城市大学深圳研究院 龚硕

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M2CTS (Materials Micro-analytical Characterization and Testing Service Laboratory) 是香港城市大学物理与材料科学系下属的科研试验机构。专门从事材料微观测试与性能分析(包括无机材料,有机高分子材料,金属材料,光学材料)以及表面镀膜(PVD,CVD,PIII 等离子注入)。以及其它各种物理和化学性能测试。

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