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光电工程师社区»光电论坛 › 光电理论及应用技术 › 光学加工工艺及检测测试 › MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？

MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？

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发表于 2004-2-4 19:52:00|山东 | 查看全部 阅读模式
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lotusinheart 楼主Lv.8 发表于 2004-2-4 19:55:00|山东 | 查看全部

MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？

我在论坛上找到的中文军标，划痕和点子的单位分别是1微米和10微米，可是有些公司的标准是0.1微米和1微米（中间还注明是按照美国军标定的），在英文军标中我没找到关于单位的规定。
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xyqy Lv.12 发表于 2004-2-4 20:49:00|浙江 | 查看全部

MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？

适用
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tiannan Lv.8 发表于 2004-2-4 23:02:00|四川 | 查看全部

MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？

适用，选择具体指标要结合实际用途。
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