光电工程师社区»光电社区 › 光电理论及应用技术 › 光学加工工艺及检测测试 › MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？

返回列表发新帖

查看: 2526|回复: 3

MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？

发表于 2004-2-4 19:52:00 | 显示全部楼层 |阅读模式

rt

回复

使用道具举报

楼主| 发表于 2004-2-4 19:55:00 | 显示全部楼层

MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？

我在论坛上找到的中文军标，划痕和点子的单位分别是1微米和10微米，可是有些公司的标准是0.1微米和1微米（中间还注明是按照美国军标定的），在英文军标中我没找到关于单位的规定。

回复支持反对

使用道具举报

发表于 2004-2-4 20:49:00 | 显示全部楼层

MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？

适用

回复支持反对

使用道具举报

发表于 2004-2-4 23:02:00 | 显示全部楼层

MIL 13830A适用于晶体的光洁度检测吗？

适用，选择具体指标要结合实际用途。

回复支持反对

使用道具举报

返回列表发新帖

关注公众号

手机版|搜索|光电工程师社区

相关侵权、举报、投诉及建议等，请发 E-mail：admin@discuz.vip

Powered by Discuz! X5.0 Licensed © 2001-2026 Discuz! Team.|鄂ICP备17021725号-1

在本版发帖

关注公众号

QQ客服返回顶部