薄膜测量仪F20 (美国FILMETRICS)

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产品名称：
    F20 便携式膜厚测量系统
  
产品简介：  
    利用光谱反射原理,进行非接触式测量.可对薄膜厚度、n、k值进行测量.常规可测4层膜.有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是： 3nm～250um，精度为0.1nm。
产品背景:
    美国FILMETRICS公司成立于1995年，总部位于美国加州的圣地亚哥，是经济、快速膜厚测量系统的顶尖制造商，FILMETRICS公司的产品曾获得全美“100项重大科技成就奖”和“25项新产品奖”。 产品特性：  
    操作简单、使用方便；
    测量快速、准确；
    体积小、重量轻；  
    价格便宜；
产品应用：
    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物； 
    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片  

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联系方式:  
北京高光科技有限公司  
联系人: 田小姐
E-mail: ty@clight.com.cn 
电  话: 010-58816816

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